ISTFA 2011 conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Coauteurs: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Formaat: Elektronisch Conferentie akten E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Materials Park, Ohio : ASM International, 2011.
Onderwerpen:
Online toegang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Gelijkaardige items: ISTFA 2011