ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Kurumsal yazarlar: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Materyal Türü: Elektronik Konferans Sunumu Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Materials Park, OH : ASM International, c1999.
Konular:
Online Erişim:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!