ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
organizacja autorów: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Format: Elektroniczne Materiały konferencyjne E-book
Język:angielski
Wydane: Materials Park, OH : ASM International, c2001.
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!