Kansikuva
QR-koodi

ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Näytä muut versiot (1)
Tallennettuna:
Yhteisötekijät: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Aineistotyyppi: Elektroninen Konferenssijulkaisu E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Materials Park, OH : ASM International, c2001.
Aiheet:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronic books.
Linkit:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
Lisää ensimmäinen kommentti!
Kirjaudu sisään ensin

Samankaltaisia teoksia