ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Nhiều tác giả của công ty: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Định dạng: Điện tử Hội nghị đang tiến hành eBook
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: Materials Park, OH : ASM International, c2001.
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!