ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Tallennettuna:

Bibliografiset tiedot
Yhteisötekijät:	International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Aineistotyyppi:	Elektroninen Konferenssijulkaisu E-kirja
Kieli:	englanti
Julkaistu:	Materials Park, Ohio : ASM International, 2003.
Aiheet:	Electronics > Materials > Testing > Congresses. Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses. Electronic books.
Linkit:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit:	Lisää tagi Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

Internet