ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Korporace:	International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Médium:	Elektronický zdroj Konferenční příspěvek E-kniha
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Materials Park, Ohio : ASM International, 2003.
Témata:	Electronics > Materials > Testing > Congresses. Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses. Electronic books.
On-line přístup:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Internet