ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Співавтори:	International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Формат:	Електронний ресурс Матеріали конференцій eКнига
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Materials Park, Ohio : ASM International, 2003.
Предмети:	Electronics > Materials > Testing > Congresses. Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses. Electronic books.
Онлайн доступ:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Інтернет