ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

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書誌詳細
共著者:	International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
フォーマット:	電子媒体会議録 eBook
言語:	英語
出版事項:	Materials Park, Ohio : ASM International, 2003.
主題:	Electronics > Materials > Testing > Congresses. Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses. Electronic books.
オンライン･アクセス:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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