International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2003). ISTFA 2003: Proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California. ASM International.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)
International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, و Inc ebrary. ISTFA 2003: Proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California. Materials Park, Ohio: ASM International, 2003.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)
International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif, et al. ISTFA 2003: Proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California. ASM International, 2003.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.