Αναφορές εγγραφής
Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)
International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2003). ISTFA 2003: Proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California. ASM International.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)
International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, και Inc ebrary. ISTFA 2003: Proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California. Materials Park, Ohio: ASM International, 2003.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)
International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif, et al. ISTFA 2003: Proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California. ASM International, 2003.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.