ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.
Kaydedildi:
Kurumsal yazarlar: | , , , |
---|---|
Materyal Türü: | Elektronik Konferans Sunumu Ekitap |
Dil: | İngilizce |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
Materials Park, OH :
ASM International,
c2000.
|
Konular: | |
Online Erişim: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|