ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Kurumsal yazarlar: International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Materyal Türü: Elektronik Konferans Sunumu Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Materials Park, OH : ASM International, c2000.
Konular:
Online Erişim:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!