ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Yhteisötekijät: International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Aineistotyyppi: Elektroninen Konferenssijulkaisu E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Materials Park, OH : ASM International, c2000.
Aiheet:
Linkit:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
Kuvaus
Huomautukset:"Sponsored by EDFAS, ISTFA".
Ulkoasu:xvi, 577 p. : ill.
Bibliografia:Includes bibliographical references and index.