International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2000). ISTFA 2000: Proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington. ASM International.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)
International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, i Inc ebrary. ISTFA 2000: Proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington. Materials Park, OH: ASM International, 2000.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)
International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash, et al. ISTFA 2000: Proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington. ASM International, 2000.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..