ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Institutionella skapare: International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Materialtyp: Elektronisk Konferenspublikation E-bok
Språk:engelska
Publicerad: Materials Park, OH : ASM International, c2000.
Ämnen:
Länkar:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
Beskrivning
Beskrivning:"Sponsored by EDFAS, ISTFA".
Fysisk beskrivning:xvi, 577 p. : ill.
Bibliografi:Includes bibliographical references and index.