ISTFA 2005 Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis, Movember 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
organizacja autorów: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Format: Elektroniczne Materiały konferencyjne E-book
Język:angielski
Wydane: Materials Park, OH : ASM International, c2005.
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!