ISTFA 2005 Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis, Movember 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Kurumsal yazarlar: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Materyal Türü: Elektronik Konferans Sunumu Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Materials Park, OH : ASM International, c2005.
Konular:
Online Erişim:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!