ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

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Detalles Bibliográficos
Autores Corporativos:	International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Formato:	Electrónico Procedimiento de la Conferencia eBook
Lenguaje:	inglés
Publicado:	Materials Park, Ohio : Asm International, 2009.
Materias:	Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses. Electronics > Materials > Testing > Congresses. Electronic books.
Acceso en línea:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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