Կազմի պատկեր

ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

Ցույց տալ այլ տարբերակներ (1)
Պահպանված է:
Համատեղ հեղինակներ: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային Գիտաժողովի նյութեր էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Materials Park, Ohio : Asm International, 2009.
Խորագրեր:
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic books.
Առցանց հասանելիություն:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
Կազմի պատկեր

ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, Califo...

Հրապարակվել է 2009.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Էլեկտրոնային Գիտաժողովի նյութեր էլ․ գիրք
Պահել ցուցակում
Պահպանված է:
Ցույց տալ բոլոր տարբերակները (2)

Նմանատիպ նյութեր