ISTFA 2005 Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis, Movember 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California /

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Institutionella upphov: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Materialtyp: Elektronisk Konferenspublikation E-bok
Språk:engelska
Utgiven: Materials Park, OH : ASM International, c2005.
Ämnen:
Länkar:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!