ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
שמור ב:
| Corporate Authors: | , , , |
|---|---|
| פורמט: | אלקטרוני Conference Proceeding ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Materials Park, OH :
ASM International,
c2007.
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| תגים: |
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|