ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Nhiều tác giả của công ty: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Định dạng: Điện tử Hội nghị đang tiến hành eBook
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: Materials Park, OH : ASM International, c2007.
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!