ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor corporatiu: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Format: Electrònic Actes de congresos eBook
Idioma:anglès
Publicat: Materials Park, OH : ASM International, c2007.
Matèries:
Accés en línia:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!