International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2007). ISTFA 2007: Proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. ASM International.
Sao chép vào clipboard thành công
Sao chép vào clipboard thất bại
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, và Inc ebrary. ISTFA 2007: Proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. Materials Park, OH: ASM International, 2007.
Sao chép vào clipboard thành công
Sao chép vào clipboard thất bại
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, et al. ISTFA 2007: Proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. ASM International, 2007.
Sao chép vào clipboard thành công
Sao chép vào clipboard thất bại
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.