Preskoči na sadržaj
VuFind
  • Prijava
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Napredno
  • Electronic materials science
  • Citiraj ovo
  • Pošalji tekstualnu poruku
  • Pošalji ovo e-mailom
  • Ispiši
  • Izvezi zapis
    • Izvezi u RefWorks
    • Izvezi u EndNoteWeb
    • Izvezi u EndNote
  • Spremi u popis
  • Stalna poveznica
Slika omota
QR kȏd

Electronic materials science

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Glavni autor: Irene, Eugene A.
Autor kompanije: ebrary, Inc
Format: Elektronički e-knjiga
Jezik:engleski
Izdano: Hoboken, N.J. : Wiley-Interscience, c2005.
Teme:
Electronics > Materials.
Electronic apparatus and appliances > Materials.
Electronic books.
Online pristup:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
  • Primjerci
  • Opis
  • Komentari
  • Slični predmeti
  • Prikaz za djelatnike knjižnice

Internet

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

Slični predmeti

  • Polymers for electricity and electronics materials, properties, and applications /
    od: Drobny, Jiri George
    Izdano: (2012)
  • Single-electron devices and circuits in silicon
    od: Durrani, Zahid Ali Khan
    Izdano: (2010)
  • ISTFA 2014 : conference proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis ; November 9-13, 2014, George R. Brown Conversion Center, Houston, Texas, USA /
    Izdano: (2014)
  • ISTFA 2013 : conference proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
    Izdano: (2013)
  • Advances in electronic materials : special topic volume with invited papers only /
    Izdano: (2009)

Opcije pretrage

  • Povijest pretrage
  • Napredna pretraga

Pronađi više

  • Pregledaj katalog
  • Pregledaj abecednim redom
  • Istraži kanale
  • Rezervacije tečajeva
  • Novi predmeti

Trebaš pomoć?

  • Savjeti za pretragu
  • Upitaj knjižničara
  • Često postavljena pitanja