International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2011). ISTFA 2011: Conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA. ASM International.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, و Inc ebrary. ISTFA 2011: Conference Proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA. Materials Park, Ohio: ASM International, 2011.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, et al. ISTFA 2011: Conference Proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA. ASM International, 2011.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.