International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2011). ISTFA 2011: Conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA. ASM International.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, i Inc ebrary. ISTFA 2011: Conference Proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA. Materials Park, Ohio: ASM International, 2011.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, et al. ISTFA 2011: Conference Proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA. ASM International, 2011.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..