ISTFA 2004 proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Корпоративные авторы: International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Формат: Электронный ресурс Материалы конференции eКнига
Язык:английский
Опубликовано: Materials Park, OH : ASM International, c2004.
Предметы:
Online-ссылка:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!