International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2004). ISTFA 2004: Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts. ASM International.
Հաջողությամբ պատճենվել է միջանկյալ հիշողություն
Պատճենումը միջանկյալ հիշողություն ձախողվեց
Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերում
International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, and Inc ebrary. ISTFA 2004: Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts. Materials Park, OH: ASM International, 2004.
Հաջողությամբ պատճենվել է միջանկյալ հիշողություն
Պատճենումը միջանկյալ հիշողություն ձախողվեց
MLA (9րդ խմբ.) Մեջբերում
International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass, et al. ISTFA 2004: Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts. ASM International, 2004.
Հաջողությամբ պատճենվել է միջանկյալ հիշողություն
Պատճենումը միջանկյալ հիշողություն ձախողվեց
Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.