International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2004). ISTFA 2004: Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts. ASM International.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)
International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, i Inc ebrary. ISTFA 2004: Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts. Materials Park, OH: ASM International, 2004.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)
International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass, et al. ISTFA 2004: Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts. ASM International, 2004.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..