International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2004). ISTFA 2004: Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts. ASM International.
Sao chép vào clipboard thành công
Sao chép vào clipboard thất bại
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)
International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, và Inc ebrary. ISTFA 2004: Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts. Materials Park, OH: ASM International, 2004.
Sao chép vào clipboard thành công
Sao chép vào clipboard thất bại
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)
International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass, et al. ISTFA 2004: Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts. ASM International, 2004.
Sao chép vào clipboard thành công
Sao chép vào clipboard thất bại
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.