ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.

Сохранить в:

Библиографические подробности
Корпоративные авторы:	International Symposium for Testing and Failure Analysis Los Angeles, Calif., ASM International. Electronic Materials and Processing Division, ebrary, Inc
Формат:	Электронный ресурс Материалы конференции eКнига
Язык:	английский
Опубликовано:	Materials Park, Ohio : ASM International, c1996.
Предметы:	Electronics > Materials > Testing > Congresses. Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses. Electronic books.
Online-ссылка:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Метки:	Добавить метку Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Internet