ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Korporace:	International Symposium for Testing and Failure Analysis Los Angeles, Calif., ASM International. Electronic Materials and Processing Division, ebrary, Inc
Médium:	Elektronický zdroj Konferenční příspěvek E-kniha
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Materials Park, Ohio : ASM International, c1996.
Témata:	Electronics > Materials > Testing > Congresses. Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses. Electronic books.
On-line přístup:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Internet