ISTFA 2011 conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Nhiều tác giả của công ty: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Định dạng: Điện tử Hội nghị đang tiến hành eBook
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: Materials Park, Ohio : ASM International, 2011.
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Miêu tả
Mô tả vật lý:xix, 456 p. : col. ill.
Thư mục:Includes bibliographical references and index.