ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

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ग्रंथसूची विवरण
निगमित लेखकों:	International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
स्वरूप:	इलेक्ट्रोनिक सम्मेलन की कार्यवाही ई-पुस्तक
भाषा:	अंग्रेज़ी
प्रकाशित:	Materials Park, Ohio : Asm International, 2009.
विषय:	Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses. Electronics > Materials > Testing > Congresses. Electronic books.
ऑनलाइन पहुंच:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, Califo...

प्रकाशित 2009.

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

इलेक्ट्रोनिक सम्मेलन की कार्यवाही ई-पुस्तक