Imagen de Portada
Código QR

ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

Mostrar otras versiones (1)
Guardado en:
Autores Corporativos: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Formato: Electrónico Procedimiento de la Conferencia eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Materials Park, Ohio : Asm International, 2009.
Materias:
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic books.
Acceso en línea:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
Imagen de Portada

ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, Califo...

Publicado 2009.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Electrónico Procedimiento de la Conferencia eBook
Agregar a favoritos
Guardado en:
Mostrar todas las versiones(2)

Ejemplares similares