صورة الغلاف
QR رمز

ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

عرض إصدارات أخرى (1)
محفوظ في:
مؤلفون مشاركون: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
التنسيق: الكتروني وقائع المؤتمر كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Materials Park, Ohio : Asm International, 2009.
الموضوعات:
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic books.
الوصول للمادة أونلاين:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
وصف مادي:xvi, 355 p. : ill.
بيبلوغرافيا:Includes bibliographical references and index.

مواد مشابهة