ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συλλογικό Έργο: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Πρακτικό Συνεδρίου Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Materials Park, Ohio : Asm International, 2009.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Περιγραφή
Φυσική περιγραφή:xvi, 355 p. : ill.
Βιβλιογραφία:Includes bibliographical references and index.