ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

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Detalhes bibliográficos
Corporate Authors: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Formato: Recurso Electrónico Conference Proceeding livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: Materials Park, Ohio : Asm International, 2009.
Assuntos:
Acesso em linha:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Descrição
Descrição Física:xvi, 355 p. : ill.
Bibliografia:Includes bibliographical references and index.