International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2009). ISTFA 2009: Conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. Asm International.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, و Inc ebrary. ISTFA 2009: Conference Proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. Materials Park, Ohio: Asm International, 2009.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, et al. ISTFA 2009: Conference Proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. Asm International, 2009.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.