International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2009). ISTFA 2009: Conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. Asm International.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতি
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, এবং Inc ebrary. ISTFA 2009: Conference Proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. Materials Park, Ohio: Asm International, 2009.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতি
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, et al. ISTFA 2009: Conference Proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. Asm International, 2009.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.