ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون مشاركون: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
التنسيق: الكتروني وقائع المؤتمر كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Materials Park, OH : ASM International, c2007.
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Search Result 1

ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

منشور في c2007.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الكتروني وقائع المؤتمر كتاب الكتروني