ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

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書誌詳細
共著者: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
フォーマット: 電子媒体 会議録 eBook
言語:英語
出版事項: Materials Park, OH : ASM International, c2007.
主題:
オンライン・アクセス:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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その他の書誌記述
物理的記述:xvi, 356 p. : ill.
書誌:Includes bibliographical references and index.