ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

-д хадгалсан:
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Байгууллагын зохиогчид: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Формат: Цахим Бага хурлын үйл явц Цахим ном
Хэл сонгох:англи
Хэвлэсэн: Materials Park, OH : ASM International, c2007.
Нөхцлүүд:
Онлайн хандалт:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Шошгууд: Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!