ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
সংস্থা লেখক: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক কনফারেন্স প্রসিডিং বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: Materials Park, OH : ASM International, c2007.
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
বিবরন
দৈহিক বর্ননা:xvi, 356 p. : ill.
গ্রন্থ-পঞ্জী:Includes bibliographical references and index.