International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2007). ISTFA 2007: Proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. ASM International.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, و Inc ebrary. ISTFA 2007: Proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. Materials Park, OH: ASM International, 2007.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)
International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif, et al. ISTFA 2007: Proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA. ASM International, 2007.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.