Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả của công ty: International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors Miyazaki-shi, Japan
Tác giả khác: Yamada-Kaneta, Hiroshi, Sakai, Akira (Professor of engineering science)
Định dạng: Điện tử Hội nghị đang tiến hành eBook
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: Durnten-Zurich ; Enfield, NH : Trans Tech Publications, [2012]
Loạt:Materials science forum ; v. 725.
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!