Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
Đã lưu trong:
Tác giả của công ty: | |
---|---|
Tác giả khác: | , |
Định dạng: | Điện tử Hội nghị đang tiến hành eBook |
Ngôn ngữ: | Tiếng Anh |
Được phát hành: |
Durnten-Zurich ; Enfield, NH :
Trans Tech Publications,
[2012]
|
Loạt: | Materials science forum ;
v. 725. |
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Là người đầu tiên ghi lời nhận xét!