Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
שמור ב:
| מחבר תאגידי: | |
|---|---|
| מחברים אחרים: | , |
| פורמט: | אלקטרוני Conference Proceeding ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Durnten-Zurich ; Enfield, NH :
Trans Tech Publications,
[2012]
|
| סדרה: | Materials science forum ;
v. 725. |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!