Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor corporatiu: International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors Miyazaki-shi, Japan
Altres autors: Yamada-Kaneta, Hiroshi, Sakai, Akira (Professor of engineering science)
Format: Electrònic Actes de congresos eBook
Idioma:anglès
Publicat: Durnten-Zurich ; Enfield, NH : Trans Tech Publications, [2012]
Col·lecció:Materials science forum ; v. 725.
Matèries:
Accés en línia:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!