Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
Guardat en:
| Autor corporatiu: | |
|---|---|
| Altres autors: | , |
| Format: | Electrònic Actes de congresos eBook |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
Durnten-Zurich ; Enfield, NH :
Trans Tech Publications,
[2012]
|
| Col·lecció: | Materials science forum ;
v. 725. |
| Matèries: | |
| Accés en línia: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|