Ga door naar de inhoud
VuFind
  • Aanmelden
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Geavanceerd
  • Defects and diffusion in semic...
  • Citeren
  • SMS dit
  • Versturen
  • Afdrukken
  • Exporteer Record
    • Exporteer naar RefWorks
    • Exporteer naar EndNoteWeb
    • Exporteer naar EndNote
  • Toevoegen aan favorieten
  • Permalink
Beeld op de omslag
QR code

Defects and diffusion in semiconductors XIII /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Fisher, D. J.
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, [2011]
Reeks:Diffusion and defect data. Defect and diffusion forum ; v. 318.
Onderwerpen:
Semiconductors > Defects.
Diffusion.
Electronic books.
Online toegang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
  • Exemplaren
  • Omschrijving
  • Commentaar
  • Gelijkaardige items
  • Personeel

Internet

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

Gelijkaardige items

  • Defects and diffusion in semiconductors.
    Gepubliceerd in: (2013)
  • Defects and diffusion in semiconductors. an annual retrospective /
    Gepubliceerd in: (2008)
  • Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective I /
    Gepubliceerd in: (2009)
  • Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective II /
    Gepubliceerd in: (2010)
  • Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
    Gepubliceerd in: (2012)

Zoekopties

  • Zoekgeschiedenis
  • Uitgebreid zoeken

Vind meer

  • Blader door de catalogus
  • Blader alfabetisch
  • Ontdek de kanalen
  • College reserveringen
  • Nieuwe items

Hulp nodig?

  • Zoektips
  • Vraag het een bibliothecaris
  • FAQs