Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
Uloženo v:
| Korporativní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | , |
| Médium: | Elektronický zdroj Konferenční příspěvek E-kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Durnten-Zurich ; Enfield, NH :
Trans Tech Publications,
[2012]
|
| Edice: | Materials science forum ;
v. 725. |
| Témata: | |
| On-line přístup: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|