Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلف مشترك: International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors Miyazaki-shi, Japan
مؤلفون آخرون: Yamada-Kaneta, Hiroshi, Sakai, Akira (Professor of engineering science)
التنسيق: الكتروني وقائع المؤتمر كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Durnten-Zurich ; Enfield, NH : Trans Tech Publications, [2012]
سلاسل:Materials science forum ; v. 725.
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!