ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συλλογικό Έργο: International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Πρακτικό Συνεδρίου Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Materials Park, OH : ASM International, c2000.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Search Result 1

ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

Έκδοση 2000
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ηλεκτρονική πηγή Πρακτικό Συνεδρίου Ηλ. βιβλίο