Strain-engineered MOSFETs /

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Auteurs principaux:	Maiti, C. K. (Auteur), Maiti, T. K. (Auteur)
Format:	Électronique e-book
Langue:	anglais
Publié:	Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
Sujets:	Integrated circuits > Fault tolerance. Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability. Strains and stresses. Electronic books.
Accès en ligne:	Click to View
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