Strain-engineered MOSFETs /

Spremljeno u:

Bibliografski detalji
Glavni autori:	Maiti, C. K. (Autor), Maiti, T. K. (Autor)
Format:	Elektronički e-knjiga
Jezik:	engleski
Izdano:	Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
Teme:	Integrated circuits > Fault tolerance. Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability. Strains and stresses. Electronic books.
Online pristup:	Click to View
Oznake:	Dodaj oznaku Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!

Strain-engineered MOSFETs / od Maiti, C. K., Maiti, T. K.

Izdano [2013]

Click to View

Elektronički e-knjiga