Strain-engineered MOSFETs /

Сохранить в:

Библиографические подробности
Главные авторы:	Maiti, C. K. (Автор), Maiti, T. K. (Автор)
Формат:	Электронный ресурс eКнига
Язык:	английский
Опубликовано:	Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
Предметы:	Integrated circuits > Fault tolerance. Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability. Strains and stresses. Electronic books.
Online-ссылка:	Click to View
Метки:	Добавить метку Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Internet

Click to View