Strain-engineered MOSFETs /

-д хадгалсан:

Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолчид:	Maiti, C. K. (Зохиогч), Maiti, T. K. (Зохиогч)
Формат:	Цахим Цахим ном
Хэл сонгох:	англи
Хэвлэсэн:	Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
Нөхцлүүд:	Integrated circuits > Fault tolerance. Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability. Strains and stresses. Electronic books.
Онлайн хандалт:	Click to View
Шошгууд:	Шошго нэмэх Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!

Интернэт

Click to View