Strain-engineered MOSFETs /

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Maiti, C. K. (Autor), Maiti, T. K. (Autor)
Formato:	Electrónico eBook
Lenguaje:	inglés
Publicado:	Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
Materias:	Integrated circuits > Fault tolerance. Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability. Strains and stresses. Electronic books.
Acceso en línea:	Click to View
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