Kansikuva
QR-koodi

Strain-engineered MOSFETs /

Näytä muut versiot (1)
Tallennettuna:
Päätekijät: Maiti, C. K. (Tekijä), Maiti, T. K. (Tekijä)
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
Aiheet:
Integrated circuits > Fault tolerance.
Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability.
Strains and stresses.
Electronic books.
Linkit:Click to View
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
Ulkoasu:1 online resource (xx, 289 pages) : illustrations
Bibliografia:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9781466503472

Samankaltaisia teoksia