Strain-engineered MOSFETs /

Bewaard in:

Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:	Maiti, C. K. (Auteur), Maiti, T. K. (Auteur)
Formaat:	Elektronisch E-boek
Taal:	Engels
Gepubliceerd in:	Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
Onderwerpen:	Integrated circuits > Fault tolerance. Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability. Strains and stresses. Electronic books.
Online toegang:	Click to View
Tags:	Voeg label toe Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Gelijkaardige items: Strain-engineered MOSFETs /