Strain-engineered MOSFETs /

Zapisane w:

Opis bibliograficzny
Główni autorzy:	Maiti, C. K. (Autor), Maiti, T. K. (Autor)
Format:	Elektroniczne E-book
Język:	angielski
Wydane:	Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
Hasła przedmiotowe:	Integrated circuits > Fault tolerance. Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability. Strains and stresses. Electronic books.
Dostęp online:	Click to View
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Podobne zapisy: Strain-engineered MOSFETs /