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Strain-engineered MOSFETs /

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主要な著者: Maiti, C. K. (著者), Maiti, T. K. (著者)
フォーマット: 電子媒体 eBook
言語:英語
出版事項: Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
主題:
Integrated circuits > Fault tolerance.
Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability.
Strains and stresses.
Electronic books.
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