תמונות העטיפה
QR Code

Strain-engineered MOSFETs /

Show other versions (1)
שמור ב:
Main Authors: Maiti, C. K. (Author), Maiti, T. K. (Author)
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
נושאים:
Integrated circuits > Fault tolerance.
Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability.
Strains and stresses.
Electronic books.
גישה מקוונת:Click to View
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים: Strain-engineered MOSFETs /

פריטים דומים