Strain-engineered MOSFETs /

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:	Maiti, C. K. (Autor), Maiti, T. K. (Autor)
Médium:	Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
Témata:	Integrated circuits > Fault tolerance. Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability. Strains and stresses. Electronic books.
On-line přístup:	Click to View
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Strain-engineered MOSFETs / Autor Maiti, C. K., Maiti, T. K.

Vydáno [2013]

Click to View

Elektronický zdroj E-kniha