Strain-engineered MOSFETs /

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Detalhes bibliográficos
Main Authors:	Maiti, C. K. (Author), Maiti, T. K. (Author)
Formato:	Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:	inglês
Publicado em:	Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
Assuntos:	Integrated circuits > Fault tolerance. Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability. Strains and stresses. Electronic books.
Acesso em linha:	Click to View
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Strain-engineered MOSFETs / Por Maiti, C. K., Maiti, T. K.

Publicado em [2013]

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