Strain-engineered MOSFETs /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Maiti, C. K. (مؤلف), Maiti, T. K. (مؤلف)
التنسيق: الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Boca Raton : CRC Press, Taylor & Francis, [2013]
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:Click to View
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

MARC

LEADER 00000nam a22000003i 4500
001 EBC7245242
003 MiAaPQ
005 20250214125713.0
006 m o d |
007 cr cnu||||||||
008 231110s2013 flua ob 001 0 eng d
020 |a 9781466503472  |q (electronic bk.) 
020 |z 9781466500556  |q (print) 
035 |a (MiAaPQ)EBC7245242 
035 |a (Au-PeEL)EBL7245242 
035 |a (OCoLC)1378935116 
040 |a MiAaPQ  |b eng  |e rda  |e pn  |c MiAaPQ  |d MiAaPQ 
050 4 |a TK7871.99.M44  |b M248 2013 
100 1 |a Maiti, C. K.,  |e author. 
245 1 0 |a Strain-engineered MOSFETs /  |c C. K. Maiti, T. K. Maiti. 
264 1 |a Boca Raton :  |b CRC Press, Taylor & Francis,  |c [2013] 
264 4 |c �2013 
300 |a 1 online resource (xx, 289 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
588 |a Description based on online resource; title from PDF title page (EBook Central, viewed February 2, 2024). 
590 |a Electronic reproduction. Ann Arbor, MI : ProQuest, 2016. Available via World Wide Web. Access may be limited to ProQuest affiliated libraries. 
650 0 |a Integrated circuits  |x Fault tolerance. 
650 0 |a Metal oxide semiconductor field-effect transistors  |x Reliability. 
650 0 |a Strains and stresses. 
655 4 |a Electronic books. 
700 1 |a Maiti, T. K.,  |e author. 
776 0 8 |i Print version:  |a Maiti, C. K.  |t Strain-Engineered MOSFETs  |d Milton : Taylor & Francis Group,c2012  |z 9781466500556 
797 2 |a ProQuest (Firm) 
856 4 0 |u http://ebookcentral.proquest.com/lib/daystar-ebooks/detail.action?docID=7245242  |z Click to View 
999 |c 248557  |d 248556