תמונות העטיפה

VLSI test principles and architectures design for testability /

Show other versions (1)
שמור ב:
מחברים אחרים: Wang, Laung-Terng, Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D., Wen, Xiaoqing
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006.
סדרה:Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
נושאים:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Design.
Electronic books.
גישה מקוונת:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
תמונות העטיפה

VLSI test principles and architectures design for testability /

יצא לאור c2006.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
אלקטרוני ספר אלקטרוני
הוספה למועדפים
שמור ב:
Show all versions (2)

פריטים דומים