VLSI test principles and architectures design for testability /

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
অন্যান্য লেখক: Wang, Laung-Terng, Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D., Wen, Xiaoqing
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006.
মালা:Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!