VLSI test principles and architectures design for testability /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Другие авторы: Wang, Laung-Terng, Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D., Wen, Xiaoqing
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006.
Серии:Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
Предметы:
Online-ссылка:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!