Power-constrained testing of VLSI circuits

Furkejuvvon:
Bibliográfalaš dieđut
Váldodahkki: Nicolici, Nicola
Searvvušdahkki: ebrary, Inc
Eará dahkkit: Al-Hashimi, Bashir
Materiálatiipa: Elektrovnnalaš E-girji
Giella:eaŋgalasgiella
Almmustuhtton: Boston : Kluwer Academic Publishers, c2003.
Ráidu:Frontiers in electronic testing ; 22.
Fáttát:
Liŋkkat:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Fáddágilkorat: Lasit fáddágilkoriid
Eai fáddágilkorat, Lasit vuosttaš fáddágilkora!