Power-constrained testing of VLSI circuits
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلف مشترك: | |
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Boston :
Kluwer Academic Publishers,
c2003.
|
| سلاسل: | Frontiers in electronic testing ;
22. |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة: Power-constrained testing of VLSI circuits
- Power-constrained testing of VLSI circuits
- VLSI test principles and architectures design for testability /
- VLSI test principles and architectures design for testability /
- Mixed analog-digital VLSI devices and technology
- Mixed analog-digital VLSI devices and technology
- VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /