Power-constrained testing of VLSI circuits
-д хадгалсан:
| Үндсэн зохиолч: | |
|---|---|
| Байгууллагын зохиогч: | |
| Бусад зохиолчид: | |
| Формат: | Цахим Цахим ном |
| Хэл сонгох: | англи |
| Хэвлэсэн: |
Boston :
Kluwer Academic Publishers,
c2003.
|
| Цуврал: | Frontiers in electronic testing ;
22. |
| Нөхцлүүд: | |
| Онлайн хандалт: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Шошгууд: |
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!
|
Ижил төстэй зүйлс: Power-constrained testing of VLSI circuits
- Power-constrained testing of VLSI circuits
- VLSI test principles and architectures design for testability /
- VLSI test principles and architectures design for testability /
- Mixed analog-digital VLSI devices and technology
- Mixed analog-digital VLSI devices and technology
- VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /