Power-constrained testing of VLSI circuits
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
Boston :
Kluwer Academic Publishers,
c2003.
|
| Σειρά: | Frontiers in electronic testing ;
22. |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια: Power-constrained testing of VLSI circuits
- VLSI test principles and architectures design for testability /
- Mixed analog-digital VLSI devices and technology
- VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
- Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
- VLSI circuits for biomedical applications
- A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /